- time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy (TOF-SIMS)
- Макаров: время-пролётная масс-спектроскопия вторичных ионов
Универсальный англо-русский словарь. Академик.ру. 2011.
time-of-flight secondary-ion-mass spectroscopy (TOF-SIMS)
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Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a solid which may be a metal, semiconductor or… … Wikipedia
Electron Beam Ion Source — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Electron Beam Ion Trap — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT) bzw. Elektronenstrahl Ionenfalle ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Mass spectrometry — (MS) is an analytical technique that measures the mass to charge ratio of charged particles.[1] It is used for determining masses of particles, for determining the elemental composition of a sample or molecule, and for elucidating the chemical… … Wikipedia
EBIS — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
EBIT-Quelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
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Elektronenstrahl-Ionenquelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahlionenfalle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Elektronenstrahlionenquelle — Eine Electron Beam Ion Trap (EBIT, Elektronenstrahl Ionenfalle) ist eine spezielle Art von Ionenfalle. Dieser Typ Falle eignet sich insbesondere für die Erzeugung und Speicherung hochgeladener Ionen. In ihr werden niedriggeladene Ionen… … Deutsch Wikipedia
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia
